搜索结果: 1-4 共查到“电子产品可靠性”相关记录4条 . 查询时间(0.276 秒)
中国科学院金属研究所专利：一种力电热多场耦合下微电子产品可靠性测试方法
中国科学院金属研究所 专利 力电热 多场耦合 微电子
2023/8/17
中国科学院金属研究所专利：一种力电热多场耦合下微电子产品可靠性测试方法
基于步进加速退化试验的电子产品可靠性评估技术
步进加速退化试验 伪失效寿命 随机退化轨迹 可靠性评估
2010/9/2
为实现高可靠、长寿命产品的可靠性评估,提出了步进加速退化试验的新方法.首先给出了步进加速退化试验方法及其基本假设,然后探讨了步进退化数据向恒加退化数据的折算方法,在此基础上提出了基于伪失效寿命的步进加速退化可靠性评估算法和基于随机退化轨迹的步进加速退化可靠性评估算法,最后利用试验数据对该方法进行了验证.结果表明:与恒加退化试验相比,该方法可以极大地缩短试验时间和减少试验样本,因此,具有更高的效费比...
利用相似产品信息的电子产品可靠性Bayes综合评估
指数分布 可靠性评估 Bayes分析
2009/4/15
在电子产品试验的可靠性评估中，为提高估计精度，经常利用历史样本数据来确定先验分布。但在工程实际中，历史样本和样本实际上属于不同的总体，这对可靠性评估结果有显著的影响。为此，采用相似系统分析确定历史样本和样本的相似程度，将其归纳为继承因子；然后根据历史样本信息确定产品可靠性的历史后验，基于无信息先验得到产品可靠性的更新后验；最后通过继承因子，综合历史后验和更新后验，得到产品可靠性的融合后验，并在此基...
四川省电子学会电子产品可靠性研讨会召开
四川省电子学会 电子产品可靠性研讨会 电子元器件
2008/6/5
四川省电子学会于4月17日在成都召开了一年一度的电子元器件的检验、测试技术学术研讨会，从事质量检验、测试及可靠性工作的专业人员参加了会议。
会议特邀电子科技大学张开华教授作了“微电子器件的可靠性”的主题报告，会议还邀请了航天华峰测控公司经理肖斌、燎原星光公司高工林中军、中电科技集团十所高工张建宁、成都斯瑞可靠性工程研究所高工韩英歧分别作了“微电子器件的测试技术与测试仪器”、“半导体分立器...