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分焦平面成像技术是近年发展起来的一种集成微纳偏振与光电成像器件的新型偏振成像技术，其对入射光偏振分量的探测主要依赖于像素式超表面元件与CCD。而目前该成像技术只能探测到线偏振分量，无法对圆偏振分量进行探测。主要原因是像素式超表面元件中缺乏能与线偏振片集成到一个芯片上的圆偏振片。目前的圆偏振片存在圆二色性低，圆偏振光透过率低，制备困难等缺点。因此寻找并制备能够实现全斯托克斯矢量探测的高性能像素式超表...