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PTCDA/ITO表面和界面的X射线光电子能谱分析
表面及界面 X光电子能谱(XPS) PTCDA/ITO
2009/10/30
利用X射线光电子能谱对PTCDA/p-Si有机/无机光电探测器中PTCDA/ITO表面和界面进行了测试分析。结果表明，苝环上的C原子的结合能为284.6 eV，酸酐中的C原子的结合能为288.7 eV，并存在来源于ITO膜中的氧对C原子的氧化现象，界面处C(1s)谱中较高结合能峰消失，且峰值向低结合能发生化学位移;CO键中O原子的结合能为531.5 eV，C—O—C键中的O原子的结合能为533.4...