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用于低开销容错设计的存储部件可靠性评估研究
软错误 体系结构弱点因子(AVF) 混合AVF评估策略(HAES) 低开销容错
2011/11/17
低开销容错技术是当前软错误研究领域的热点。为了对微处理器进行低开销容错保护，首先就需要对微处理器可靠性(即体系结构弱点因子AVF (Architectural Vulnerability Factor))进行准确评估。然而，现有的AVF评估工具的精确性和适用范围都受到不同程度的限制。该文以微处理器上的核心部件(即存储部件)作为研究对象，对AVF评估方法进行改进，提出了一种访存操作分析和指令分析相结...