搜索结果: 1-15 共查到“光学工程 光学元件”相关记录78条 . 查询时间(0.092 秒)
2024年3月22日，中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光元件技术与工程部研究团队，在利用不同激光损伤测试协议评估532nm薄膜偏振片的抗激光损伤性能和损伤机制方面取得新进展。相关成果以“Nanosecond laser damage of 532 nm thin film polarizers evaluated by different testing protocols”为...
2024年3月18日，中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光元件技术与工程部在脉冲压缩光栅双光束静态干涉场全息曝光系统光学元件的指标体系和曝光光场均匀性控制工艺研究中取得新进展。研究首次建立了反射曝光光场均匀性的定量评价体系，并在小口径反射曝光系统中成功实现了应用验证。相关研究成果以“Specifications and control of spatial frequency errors ...
中国科学院上海光机所等在光学元件表面防污处理方面获进展（图）
光学元件 纳米 有机硅聚合物
2023/11/23
2023年11月22日，中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光元件技术与工程部吴卫平团队与复旦大学合作，在超薄纳米光学元件表面防污处理方面取得进展。该团队提出了通过将柔性瓶刷形有机硅聚合物单分子层原位接枝于光学基底表面，得到具有耐污效果的新型“类液体”超滑薄膜。该透明超滑抗污薄膜在可见光区域透过率无显著下降，在红外区域透过率仅下降3%，是疏水表面领域全光谱内少有的高透过率方案。相关研究成果以A...
上海光机所在光学元件表面防污处理方面取得研究进展（图）
光学元件 纳米 有机硅聚合物
2023/11/29
2023年11月17日，中国科学院上海光机所高功率激光元件技术与工程部吴卫平团队在超薄纳米光学元件表面防污处理方面取得研究进展。研究团队与复旦大学合作，提出通过将一种柔性瓶刷形有机硅聚合物单分子层原位接枝于光学基底表面，得到了一种具有耐污效果的新型“类液体”超滑薄膜。该透明超滑抗污薄膜在可见光区域透过率无显著下降，在红外区域透过率仅下降3%，是疏水表面领域全光谱内少有的高透过率方案，相关研究成果以...
中国科学院高能物理研究所专利：一种消球差硬x射线聚焦光学元件及其设计方法
中国科学院西安光学精密机械研究所专利：可动态测量平面光学元件面形的测量装置及方法
中国科学院西安光学精密机械研究所专利：一种低温环境下光学元件面形测量装置及方法
中国科学院西安光学精密机械研究所专利：一种激光光学元件高反射率测量方法及装置
中国科学院西安光学精密机械研究所专利：大口径平面光学元件在位面形拼接测量装置及方法
【公示】 科技成果转化公示——镀有抗反射膜的衍射光学元件的优化设计方法
抗反射膜 衍射光学元件 光学设计技术
2022/6/14
成果简介：镀有抗反射膜的衍射光学元件的优化设计方法属于光学设计技术领域。现有技术仅考虑衍射光学元件本体对衍射效率的影响，并未考虑所述抗反射膜对衍射光学元件衍射效率的影响。本发明之镀有抗反射膜的衍射光学元件的优化设计方法首先设计衍射光学元件的表面衍射微结构高度；其特征在于，其次，计算由衍射光学元件表面抗反射膜膜系各膜层材料和厚度引入的附加位相；最后，用所述表面衍射微结构高度减去与所述抗反射膜附加位相...
用于惯性约束聚变(inertial confinement fusion, ICF)研究的高功率固体激光装置是当今规模最大、结构最复杂且系统性极强的光学系统工程，需要上万件大口径强激光光学元件，包括磷酸盐钕玻璃放大片和平面反射镜、非球面聚焦透镜、衍射元件，以及大口径非线性激光晶体等。
中国科学技术大学研制出可拓展成像质量光学元件（图）
光学显微镜 暗场显微成像 全内反射成像 光学显微图像
2022/4/11
记者从中国科学技术大学获悉，近期该校张斗国教授研究组研制出一种基于光学薄膜的平面型显微成像元件，用于被测样本的载玻片，可在常规的明场光学显微镜上实现暗场显微成像和全内反射成像，获取高对比度的光学显微图像。利用光学原理，光学显微镜可把人眼不能分辨的微小物体放大成像。常规的光学显微镜是明场显微镜，它利用光线照明和样本中各点依其光吸收的不同，在明亮的背景中成像。但对于一些未经染色处理的生物标本或其他透明...
光学成像系统已广泛地应用于我们生活的各个方面，从安防监控到自动驾驶，从手机摄影到最近的疫情防控，光学成像系统都是其中的核心部件。当前光学成像系统都基于折射光学元件构建，为了实现高性能成像，通常需要复杂的光学镜头，导致系统长度长、重量重。例如目前手机相机的光学镜头，因其长度难以缩小而凸出于手机后壳。衍射光学元件（DOE）具有的平面化、轻薄、轴外像差小等特性，与先进的计算成像技术相结合，有望实现平面化...
中国科学院上海光学精密机械研究所提出一种基于静态多平面相干衍射成像的大口径光学元件相位缺陷检测新方案（图）
中国科学院上海光学精密机械研究所 静态多平面相干 衍射成像 大口径光学元件 相位缺陷 检测新方案
2020/5/11
近期，中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光物理联合实验室朱健强研究员团队在大口径光学元件的相位缺陷检测研究方面取得新进展，提出了结合暗场成像和静态多平面相干衍射成像的新型检测方案，相关成果于5月7日发表于《应用光学》(Applied Optics)。
中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学与光电技术实验室周常河课题组近期将双目测量和时域散斑技术相结合，应用于300mm口径大尺寸透镜毛坯测量，成功重建出透镜毛坯表面的三维形貌。该方法实现了大尺寸透镜的快速、低成本测量，相关成果发表在Optics Express 27,10898(2019)上。大尺寸光学元件，尤其是非球面元件，被广泛运用在大型激光装置，例如“神光”II综合实验激光装置中。在元件的...