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基于非线性维纳过程的末制导炮弹控制舱光耦贮存寿命评定
光电耦合器 贮存可靠性 维纳过程 随机变量阿伦尼乌斯方程 时间-尺度变换
2019/12/6
以光耦的漏电流参数为刻画对象，使用维纳过程对其进行描述。但使用维纳过程描述不同光耦漏电流退化的个体性差异，以及漏电流非线性数据的处理以及明确失效阈值的缺乏，是目前亟待解决的问题。对线性维纳过程进行了改进，建立了随机变量阿伦尼乌斯方程，以对漂移系数λ进行随机化处理，其次利用时间-尺度变换公式解决了非线性数据转变为线性数据的问题，最后使用两步极大似然估计对参数进行估计。针对缺乏明确失效阈值的问题，设立...