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中国科学院合肥物质科学研究院专利：能快速载入试样的X射线荧光光谱测量装置
中国科学院合肥物质科学研究院专利：一种能量色散X射线荧光光谱中多元素特征谱峰识别方法
中国科学院合肥物质科学研究院专利：一种多组分重叠三维荧光光谱的成分识别方法
中国科学院大连化学物理研究所专利：一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法
中国科学院大连化学物理研究所 专利 低分辨率 近红外荧光 光谱测量 HF高振动态 粒子数分布
2023/9/14
本发明涉及一种利用低分辨率近红外荧光谱测量HF高振动态粒子数分布的技术，它基于自发辐射荧光光谱技术，是一种测量HF分子高振动激发态能级粒子数分布的新方法。本发明主要应用于化学激光测试诊断技术领域，是为了简化在HF化学激光系统中测量振动激发态粒子数分布情况的过程而产生的，本发明只需要将HF基频自发辐射荧光光谱的几条P支谱线强度进行简单的加和即可，具有简单方便、精度高、非侵入性等特点。利用本发明，可以...
中国科学院合肥物质科学研究院专利：基于离散三维荧光光谱的浮游植物识别测定方法与装置
中国科学院合肥物质科学研究院专利：一种采用X射线荧光光谱检测重金属的薄膜标准品的制备装置及其应用
本发明公开了一种用于观测液氧荧光光谱的样品池，包括液氧池、液氮池外胆及液氮池内胆，所述液氧池与液氮池的材质为派热克斯玻璃，并采用熔融一体的工艺制作。液氮池为内、外两层的保温装置，其内、外层之间为真空夹层。液氧池和液氮池两端为派热克斯玻璃材质的透明的激光通过窗，同时液氧池与液氮池侧壁中心处采用熔融一体的工艺焊接观察窗并用于收集荧光。本发明的优点在于解决了因液氮池与外界温差较大而在观察窗处结霜的问题，...
中国科学院物理研究所专利：一种基于光参量放大的飞秒时间分辨多道锁相荧光光谱仪
对含铝铬锆新型耐火材料的化学成分分析,目前行业内没有匹配的标准物质和合适的X射线荧光光谱(XRF)分析方法,而是仍沿用传统湿法,操作相对繁琐且低含量的次成分灵敏度低。实验利用日本产既有标准物质铝锆硅JRRM708、JRRM710、矾土JRRM310作基质,分别加氧化铬、氧化锆基准试剂混配出不同浓度梯度的9个校准样片系列,每个校准样片称样0.2 g,采用m(四硼酸锂)∶m(偏硼酸锂)∶m(氟化锂)=...
常规粉末压片制样是一种简单、高效的绿色环保制样技术,但是应用于富钴结壳样品制备存在样片表面粗糙和粉末容易脱落的问题。实验探索了高压压片制样技术在富钴结壳样品制备中的应用,建立了X射线荧光光谱法(XRF)分析富钴结壳样品中Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、V、Sr、Zr、Ba、Pb和Y等20种组分的方法。采用超高压压样机进...
粉末压片制样-波长色散X射线荧光光谱法测定土壤和水系沉积物中溴氯氟磷硫
粉末压片 波长色散X射线荧光光谱法(WD-XRF) 土壤, 水系沉积物 溴 氯 氟 磷 硫
2021/6/7
采用粉末直接压片制样,波长色散X射线荧光光谱法(WD-XRF)同时测定土壤及水系沉积物样品中的Br、Cl、F、P和S时,5种待测元素受矿物、化学态和粒度效应影响,测试难度较大。实验选择水系沉积物和土壤标准物质建立校准曲线,Br采用经验系数法和Rh Kα康普顿散射内标法校正基体效应和谱线干扰,F采用经验系数法和F背景内标法进行校正,Cl、P和S采用经验系数法进行校正,可以实现5种元素的准确测定。研究...
熔融制样-X射线荧光光谱法测定钛铁合金中主量元素
X射线荧光光谱法(XRF) 熔融制样 钛铁合金 氧化剂 主量元素
2021/6/7
目前行业内普遍存在的问题是低钛含量的钛铁合金比较容易氧化,高钛含量的钛铁合金如70钛铁在熔片过程中难氧化,铂-金坩埚腐蚀情况较严重,所用氧化剂往往很难兼顾到氧化能力和迸溅控制水平。经试验,将硝酸钾、硼酸和无水碳酸钠按1∶1∶4的质量比配制,能完全氧化高钛含量的钛铁合金,同时可有效避免迸溅损失。选择7 g四硼酸锂粉末铺底,采用2 g四硼酸锂-偏硼酸锂-氟化锂混合熔剂(m∶m∶m=65∶25∶10)覆...
X射线荧光光谱在矿石分析中的应用评介—总论
X射线荧光光谱(XRF) 矿石分析 文献评介 黑色金属矿石 有色金属矿石 稀有稀土稀散金属矿石 能源矿产 非金属矿石
2020/11/2
矿石因其种类繁多、成分复杂和元素含量差异悬殊而成为地质分析的一大难题。作者收集各类矿石分析方法文献726篇,在此基础上主要以列表方式按黑色金属、有色金属、稀有稀土稀散金属、能源矿产和非金属矿石5大类介绍了X射线荧光光谱(XRF)分析在数十种矿石中应用的文献概况,从分析方法研究的基础条件和各类矿石分析方法类型、特点和文献量等进行了介绍和评介,也依据XRF分析仪器及技术的发展和目前在我国矿石分析中的应...
X射线荧光光谱在标准物质和标准方法研究中的应用评介
X射线荧光光谱(XRF) 标准物质 均匀性 稳定性 定值分析 标准分析方法 超细标准物质 超细样品分析
2020/11/2
标准物质研制需要多种高精密度、高准确度方法的综合运用,特别是样品粉碎加工后的均匀性和稳定性检验,更特别强调检测方法的高精密度测量。X射线荧光光谱(XRF)技术是当今地质材料主、次量组分精密度最高、最经济快速、无污染的多元素分析技术,因此在地质标准物质研制中应用广泛并发挥了重要作用。文章从样品均匀性、稳定性、多元素定值分析和标准分析方法制定方面评介了XRF在地质标准物质研制中的应用,也介绍了XRF在...