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信息技术的快速发展对电子电路与信息系统的软硬件测试技术和容错能力提出了新的要求。为了促进中国测试与容错技术领域的学术交流，中国计算机学会容错计算专业委员会决定于2016年7月22-24日在江苏南通召开第九届中国测试学术会议（CTC’16）。会议邀请了IEEE/ACM Fellow 香港中文大学吕荣聪教授，IEEE Fellow 日本九州工业大学的温晓青教授以及希腊雅典大学的Dimitris Giz...