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将热电材料制作成纳米柱状薄膜结构是一种理论上能有效降低热导率、大幅提升热电优值的操控手段。但随之而来的问题是纳米柱状薄膜热导率的精确获取困难,由于Bi2Te3取向纳米柱状薄膜是由直径为微米量级的纳米柱阵列组成的多孔结构,其表面粗糙度较大,因此在表面上直接沉积百纳米厚的微型金属探测器的实验方案无法适用。常规的热物性测试手段已无法适用于该类表面多孔、厚度为微米量级结构热输运特性的表征。