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基于ARM9_2440的数字化压敏电压测试系统设计
ARM9_2440 压敏电压
2014/2/28
针对传统的模拟化压敏电压测试仪系统复杂、通信能力不足以及缺乏扩展性等问题，结合当前广泛应用的嵌入式系统技术和总线技术，基于ARM9_2440处理器设计了一种数字化压敏电压测试系统。电压采样电路模数转换设计采用TLC2543芯片设计；高压输出控制电路系统采用TLC5615数模转换方式输出可调电压；系统软件设计采用wince系统定制；最后系统利用ARM9强大的数据处理能力对所有数据进行分析、处理。试验...