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一种集成电路性能测量及电路实验装置获国家发明专利
2008/1/17
由中国科学院海洋研究所龚德俊等在实用新型专利基础上完成的“一种集成电路性能测量及电路实验装置”7月12日获国家发明专利授权。
该发明涉及集成电路性能测量、试验技术,尤其是—种集成电路性能测量及电路实验装置,适用于集成电路的性能测量和设计电路实验。该发明具有如下优点:一是组装方便。采用分离式、拼装结构,在基板上灵活方便地组合母板,可对多种型号和形状的集成电路进行各种性能的测量和试验;二是新型电路...